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RTS-4型四探针测试仪
仪器简介:RTS-4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料
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FT-331 四探针 方阻仪 方阻计
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FT-334 四探针方阻测试仪
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RTS-2型四探针测试仪
、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。 技术参数: 技 术 指 标 便携式四探针测试仪按测量范围可选配RTS-2型或RTS-2A型,区别:测量范围不一样。 RTS-2测量范围 电阻率
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RTS-8型四探针测试仪
仪器简介: RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试
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FT-343 四探针方阻 电阻率测试仪
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FT-347系列四探针电阻率/方阻测试仪
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FT-SD10 四探针方阻电阻率测试仪
四探针方阻电阻率测试仪1.覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏
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RTS-5型双电测四探针测试仪
RTS-5型双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换,在计算机控制下进行
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RTS-3型手持式四探针测试仪
充电可连续使用100小时; RTS-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块
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